Spurenloses Testen
Die Probe Pins setzen lediglich an einem winzigen Punkt auf das Material auf und üben nur so viel Druck aus, dass eine sichere Verbindung hergestellt, das Material jedoch nicht verformt wird. Durch das senkrechte Aufsetzen der Pins entstehen keine Kratzer, Furchen oder Riefen und das DuT (Device Under Test) verlässt den Testsockel nahezu spurenlos.
Ab 0,3 mm Pitch
Immer mehr Kontakte auf immer weniger Raum erfordern ein Höchstmaß an Präzision. YAMAICHI ELECTRONICS hat sich auf hochpräzise Testlösungen spezialisiert und bietet Testsockel ab einem Pitch von 0,3 mm in höchster Material- und Fertigungsqualität.
Beste Materialien
YAMAICHI ELECTRONICS verwendet für seine Testsockel ausschließlich hochqualitative Materialien. Die Gehäuse werden aus PEEK und eloxiertem Aluminium gefertigt. Die einzeln geprüften Probe Pins werden aus einer Beryllium Kupfer Legierung hergestellt mit Nickel und Gold überzogen. Für spezielle Anforderungen können auch Pins mit anderen Oberflächen verwendet werden.
Extrem langlebig
YAMAICHI ELECTRONICS garantiert für jeden FPC/FFC-Testsockel bis zu 50.000 Steckzyklen. Der Testsockel kann auch auf die Kundenbedürfnisse angepasst werden. Auf Wunsch wird die passende Leiterplatte gleich mitgeliefert.
